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AdvEOTec, spécialiste en Electronique et Optique :
Conseille et Accompagne des projets en hautes technologies
Conçoit et Réalise des systèmes clés en main
Prend en charge des campagnes d'essais, de tests, de mesures, de qualification
Pour vos travaux de R&D, AdvEOTec est titulaire d'un agrément Crédit Impôt Recherche.
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AdvEOTec News
Juillet 2006
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Lip Sun HOW
AdvEOTec
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EDITORIAL
Optimisez vos projets spéciaux grâce
aux C.O.T.S. et M.O.T.S.
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Les termes anglo-saxons COTS (Commercial Off-The-Shelf) et MOTS (Modified Off-The-Shelf) désignent l'utilisation des matériels standards (sur étagère) ou légèrement modifiés dans des applications autres que celles pour lesquelles ils ont été développés. C'est une pratique courante dans de nombreux domaines comme l'électrique, l'électronique, la mécanique, le logiciel...
En optoélectronique, le boom des télécoms a favorisé l'émergence d'une multitude de composants encore peu utilisés dans d'autres secteurs économiques. La tendance logique est de profiter de ces technologies pour d'autres applications industrielles. Ainsi, on découvre par exemple des capteurs optiques dans l'industrie manufacturière.
Les avantages du recours aux COTS et MOTS sont nombreux :
Réduction de coût et de délais de développement
Incorporation rapide des dernières technologies
Meilleure évolutivité et maintenance
Fiabilité de la technologie grâce à une large diffusion existante
Face à ces bénéfices, on se heurte à des risques ou inconvénients tels que :
Mauvaise connaissance du produit pour l'application envisagée
Variabilité entre lots de fabrication
Fonctionnalités existantes inutiles
Se pose donc la problématique : Pourquoi et comment intégrer à moindre risque des COTS dans un système spécial ?
La réponse à la première question est claire, l'entreprise cherche à optimiser des critères technico-économiques et
stratégiques. La réponse à la deuxième question est moins évidente.
Prenons l'exemple du secteur du spatial où la concurrence internationale est vigoureuse et
où le volume de composants utilisés est faible en regard de ceux demandés par les autres secteurs (Télécom par exemple).
D'un coté, le souci constant de réduction des budgets écarte le développement spécifique pour l'acheteur.
A l'opposé, les contraintes imposées pour ce marché marginal font reculer les fabricants.
Le recours à des COTS devient une solution dès que les composants ont subi analyses et tests
par rapport à l'utilisation qui en sera faite. La qualification au sens large du terme des COTS
pour des applications spatiales devient alors cruciale.
Une approche structurée est nécessaire pour identifier, sélectionner puis valider les COTS.
Une méthodologie spécifique permettra de conforter les choix des COTS en quantifiant les risques si possible
par le biais d'essais critiques. On pourra ainsi fabriquer le système, le tout répondant à la fois à un budget limité et à un délai réduit.
De par son expérience dans la fabrication et l'utilisation des composants optoélectroniques,
AdvEOTec a développé une méthode d'analyse qui permet de trouver la solution optimale pour votre système,
basée sur les COTS ou sur une version modifiée de ces composants commerciaux (MOTS).
DEVELOPPEMENTS SPECIAUX
Du développement spécifique jusqu'à l'adaptation des matériels sur étagère,
de la mesure pointue jusqu'à l'intégration de bancs d'essais et de tests,
les spécialistes de AdvEOTec proposent avant tout des solutions optimales qui répondent à vos besoins
dans les meilleurs coûts et délais.
Nos services peuvent également être sollicités de manière indépendante pour l'élaboration des cahiers des charges.
Si vous avez un besoin spécifique ou un développement spécial à réaliser, n'hésitez pas à
nous contacter
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SALON OPTO 2006
AdvEOTec sera présent sur le prochain Salon OPTO-MESUREXPO-Forum de l'électronique
du 17 au 19 Oct. 2006 à Paris-Porte de Versailles.
Venez nous rencontrer au stand J24 et trouver une solution à vos projets.
Pour recevoir un badge d'entrée gratuite, vous pouvez soit vous inscrire sur le site du salon ou nous demander une invitation.
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AdvEOTec lors d'un précédent Opto
Déjà la présentation vidéo sur fibre optique
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NOTE TECHNIQUE - La mesure du diamètre de mode
Le diamètre de mode ou l’angle de divergence d’un faisceau optique indique la distribution spatiale en puissance optique de cette radiation.
Classiquement, on retrouve la mesure de ce paramètre dans les émetteurs optiques tels que les lasers et les diodes laser ainsi que dans les fibres optiques qui sont couramment utilisés dans des applications telles que le couplage fibre optique, la détection de sécurité, l’impression laser, le stockage optique, le pompage laser etc. Cette donnée est essentielle car elle permet de calculer des propriétés de perte optique, de couplage, de dispersion du composant et donc de connaître l’efficacité de la source optique dans l'application donnée.
On utilise fréquemment les fonctions gaussiennes pour caractériser les faisceaux optiques :
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où s est l’écart type de la gaussienne,
I est l’intensité du signal à la position (x,y) et
Imax est l’intensité maximale. |
On peut ainsi définir la divergence du faisceau comme le rayon ou le diamètre de mode pour lequel l’intensité a chuté dans un rapport 1/e2 ou de 1/2 par rapport à sa valeur maximale (BW - Beam Waist - ou FWHM - Full Width Half Max) selon les axes X et Y.
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Plusieurs techniques de mesure sont utilisées dans l’industrie : la fente tournante, lame de couteau tournant ou encore la méthode de fente variable avec une détection soit par photodiode ou par caméra CCD. Le choix des méthodes dépend de la précision de mesure, des valeurs de divergences et de la longueur d'onde. Par exemple, avec une détection par matrice CCD, la longueur d'onde est limitée à 350-1100nm.
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Ainsi, les exigences de mesure vont être différentes d'une part selon l'application et d'autre part selon le composant sous test - fibre optique, laser collimaté ou diode laser.
D’autant plus que la mesure peut être en champ proche ou en champ lointain.
Ci-contre, la mesure en champ proche par balayage sur 20 µm (méthode développée par AdvEOTec) dans le cas d’un couplage fibre-composant.
Cette cartographie 3D montre un profil gaussien mais avec des émissions diffractives en sortie du composant qui expliquent les pertes de couplage et qui ne peuvent être détectées en champ lointain.
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De même, une mesure en champ lointain (figure à droite) d’une diode laser par rotation d’une photodiode peut démontrer la bimodalité du laser alors qu'en champ proche, cette bimodalité peut ne pas être détectée.
Nous ne pourrons décrire tous les critères de choix de mesure. Une bonne caractérisation du profil de faisceau demande au préalable une analyse des paramètres du composant à mesurer.
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Le diamètre de mode est une information de premier niveau très utile pour les sources lumineuses.
Il reste que précision, rapidité et répétabilité de la méthode de mesure seront influencées par des aspects
comme le maintien mécanique, les réflexions parasites, l'opérateur, ...
Selon les besoins, cette mesure pourrait ne pas être représentative. Dans tous les cas, il faut choisir correctement
la méthode et les moyens de mesures pour obtenir les informations pertinentes sur le faisceau.
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